無論對分析速度的要求有多高，我們創新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業知識保持與時俱進，能滿足光學領域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與無與倫比的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI獨特的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學工業而設計的出色計量包裝 。

• 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
• 全量程0.1埃的分辨率
• 輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
• RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
• 多語言版本的64位控制和分析軟件